[发明专利]基于层次分析法的成矿预测方法在审
| 申请号： | 201710939942.X | 申请日： | 2017-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN108573206A | 公开（公告）日： | 2018-09-25 |
| 发明（设计）人： | 李志军;何珊;欧俊;郭奇奇;尤孟;赵润东;何子轩;韩泽伟 | 申请（专利权）人： | 成都理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G01V8/02 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 张玲 |
| 地址： | 610051 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于层次分析法的成矿预测方法，具体包括：基于遥感影像数据进行地质特征解译；基于遥感影像数据进行蚀变异常区圈定；基于已有的地质资料，通过地球化学水系沉积物测量，进行蚀变带内的地球化学异常区圈定；将地质特征解译结果、蚀变异常区圈定结果和地球化学异常区圈定结果作为成矿影响因子，利用层次分析法计算各成矿影响因子的权重；将地质特征解译结果图、蚀变异常区圈定结果图和地球化学异常区圈定结果图叠加，根据各成矿影响因子的权重，计算叠加图中各像素点的综合权重值，并根据所述综合权重值，圈定成矿预测区。本发明提供的方法考虑的成矿影响因子更全面，各成矿影响因子的权重计算更准确，成矿预测结果的误差更小。 | ||
| 搜索关键词： | 异常区 影响因子 地球化学 成矿预测 层次分析法 地质特征 结果图 解译 遥感影像数据 综合权重 权重 叠加 水系沉积物 地质资料 权重计算 像素点 测量 | ||
【主权项】：
1.一种基于层次分析法的成矿预测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：基于遥感影像数据进行地质特征解译，得到地质特征解译结果图；基于遥感影像数据进行蚀变异常区圈定，得到蚀变异常区圈定结果图；基于已有的地质资料，通过地球化学水系沉积物测量，进行蚀变带内的地球化学异常区圈定，得到地球化学异常区圈定结果图；将地质特征解译结果、蚀变异常区圈定结果和地球化学异常区圈定结果作为成矿影响因子，利用层次分析法计算各成矿影响因子的权重；将地质特征解译结果图、蚀变异常区圈定结果图和地球化学异常区圈定结果图叠加，根据各成矿影响因子的权重，计算叠加图中各像素点的综合权重值，并根据所述综合权重值，圈定成矿预测区。
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