[发明专利]一种用于磁通门磁芯性能检测装置和方法在审

专利信息
申请号: 201710939994.7 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN107728093A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 赵琳;杜爱民;孙树全;张莹;冯晓;李智 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司11570 代理人: 刘杰
地址: 100020 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供了一种磁通门磁芯性能检测装置和方法,所述检测装置包括屏蔽筒,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境;旋转单元,用于为检测平台提供旋转动力;检测平台,用于安装待测磁芯;电路模块,用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路;支架结构,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。本申请还提供了一种利用上述磁通门磁芯性能检测装置检测磁芯性能的方法。本申请实现了在磁通门传感器组装前对磁芯性能的检测,增加了成品率,降低了资源的浪费。
搜索关键词: 一种 用于 磁通门磁芯 性能 检测 装置 方法
【主权项】:
一种用于磁通门磁芯性能检测的装置,其特征在于,包括:屏蔽筒,多层结构,每层结构均有上盖,所述多层屏蔽筒固定在支架结构上,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境,所述屏蔽筒的材料为坡莫合金;旋转单元,固定在支架结构上,包括电机和旋转轴,并通过旋转轴与检测平台相连,用于为检测平台提供旋转动力;检测平台,固定在屏蔽筒内的旋转轴上,用于安装待测磁芯,所述检测平台的材料是铝合金;电路模块,用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路;支架结构,与屏蔽筒、旋转单元和电子箱相连,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。
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