[发明专利]一种自动化电子元器件测试机构在审
| 申请号： | 201710941084.2 | 申请日： | 2017-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN107966122A | 公开（公告）日： | 2018-04-27 |
| 发明（设计）人： | 陈能强;邓凌思 | 申请（专利权）人： | 无锡昌鼎电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元器件的检测设备领域，具体是一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。本机构通过移料装置套设于所述入料轨道来对待检测材料移动行为进行调整与控制，不仅能够对待检测材料有条不紊的控制，而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制，使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的控制，不会对正在检测的材料产生干扰，与传统吹气控制待检测材料前进相比，整体机构更加小型化，装运和安装更加方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动化 电子元器件 测试 机构 | ||
【主权项】：
一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，其特征在于，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。
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