[发明专利]半导体器件有效
| 申请号： | 201710941260.2 | 申请日： | 2017-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN108630277B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 权奇薰;金溶美;金载镒 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10;G11C16/34;G11C16/24;G11C16/08 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 毋二省;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体器件，包括错误计数信号发生电路和行错误控制电路。错误计数信号发生电路产生如果被选择用来执行错误刷洗操作的单元的出错数据的数量等于预定数量则被使能的错误计数信号。如果出错数据的数量大于或等于所述预定数量则行错误控制电路响应于错误计数信号而储存关于出错数据的数量的信息，或者在比所述预定数量更多的出错数据被检测到之后响应于错误计数信号而储存关于呈现出错数据的行路径的数量的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：错误计数信号发生电路，被配置成产生错误计数信号，如果被选择用来执行错误刷洗操作的单元的出错数据的数量等于预定数量，则所述错误计数信号被使能；以及行错误控制电路，被配置成如果出错数据的数量大于或等于所述预定数量则响应于错误计数信号而储存关于出错数据的数量的信息，或者被配置成在比所述预定数量更多的出错数据被检测到之后响应于错误计数信号而储存关于呈现出错数据的行路径的数量的信息。
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