[发明专利]振弦式位移传感器的温度影响修正方法在审
申请号: | 201710944516.5 | 申请日: | 2017-09-30 |
公开(公告)号: | CN107741209A | 公开(公告)日: | 2018-02-27 |
发明(设计)人: | 杨涛;谢元康;陈万庆;沈涛胜;韩中情;刘诗媛;郝天之 | 申请(专利权)人: | 广西大学 |
主分类号: | G01B17/00 | 分类号: | G01B17/00 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司11340 | 代理人: | 林德利 |
地址: | 530007 广西壮族*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种振弦式位移传感器的温度影响修正方法,该法考虑不同温度情况下,通过试验及相关计算,得出了试样不同的位移改变量。据此,发明人还设计制作了相应的测试装置以及推算出相应的计算公式。该装置主要包括测试振弦、软铁块、磁铁、感应膜片、线圈、保护套筒、紧固件组成。使用该测试方法和测试装置,能够充分考虑到温度改变量对实测位移改变量的影响。该修正方法可以测量出在对振弦类位移传感器进行位移测试的过程中由于温度的改变引起的位移改变量,大大的提高了测量位移改变量的准确度,可广泛适用于桥梁荷载试验、健康监控等技术领域。 | ||
搜索关键词: | 振弦式 位移 传感器 温度 影响 修正 方法 | ||
【主权项】:
一种振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于,包括以下步骤:1)测量出测试振弦的原始长度l和截面面积s;2)将所述测试振弦拉紧并将其两端固定在振弦式位移传感器上;3)通过频率测量装置测量所述测试振弦的第一振动频率为f0;4)对所述测试振弦施加测试外力使所述测试振弦产生位移改变量Δl′从而改变所述测试振弦的工作长度,通过温度测量装置测量所述测试振弦的温度改变量为t,通过频率测量装置测量出所述测试振弦的第二振动频率为f″;按公式Δl′=4ml3f′′2-4ml3f02es+ltα]]>计算移改变量Δl′,式中,e为所述测试振弦的弹性模量,m为所述测试振弦的质量,a为所述测试振弦的膨胀系数。
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