[发明专利]用于操作坐标测量机的方法有效
申请号: | 201710946314.4 | 申请日: | 2017-10-12 |
公开(公告)号: | CN107957236B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | M.兰普;P.威利尔 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B17/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 孟婧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于操作坐标测量机的方法,包括:在坐标测量机的控制器或测量计算机中存储关于有待测量的工件的几何信息项,确定工件在坐标测量机的测量空间中的位置和/或对准,在控制器或测量计算机中存储与位置和/或对准相关的信息项,基于关于工件的几何信息项和与工件的位置和/或对准相关的信息项确定工件外部的自由测量体积,开始用于测量工件的坐标的测量操作,坐标测量系统在自由测量体积中移动并测量工件的坐标,在坐标测量机的测量操作过程中通过传感器来监测测量空间或自由测量体积,在监测过程中借助传感器检测异物来确定异物是否存在于自由测量体积中或异物是否被引入自由测量体积中,如存在异物,则使坐标测量系统移动越过异物。 | ||
搜索关键词: | 用于 操作 坐标 测量 方法 | ||
【主权项】:
一种用于操作坐标测量机(1)的方法,该方法包括:‑(S1)在该坐标测量机的控制器(10)或测量计算机中存储关于有待测量的工件(17)的几何信息项,‑(S2)确定该工件(17)在该坐标测量机的测量空间中的位置和/或对准,‑(S3)在该控制器(10)或测量计算机中存储与该位置和/或对准相关的信息项,‑(S4)基于关于该工件的几何信息项和与该工件(17)的位置和/或对准相关的信息项来确定该工件外部的自由测量体积,‑(S5)开始用于测量该工件(17)的坐标的测量操作,其中,坐标测量系统(7)在该自由测量体积中移动并且测量该工件的坐标,‑(S6)在该坐标测量机的测量操作过程中通过至少一个传感器(11a,11b)来监测该测量空间或该自由测量体积,其中,在该监测过程中借助于该传感器检测异物(18)来确定该异物可能存在于该自由测量体积中或该异物可能被引入该自由测量体积中,‑(S7)如果存在该异物(18),则使该坐标测量系统(7)移动越过该异物。
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