[发明专利]光电探测器频率响应测量方法及装置有效
| 申请号： | 201710950882.1 | 申请日： | 2017-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN107741525B | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 薛敏;潘时龙;衡雨清;余彩云 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电探测器频率响应测量方法。该方法将光载波分为上、下两路；然后将微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号，对下路光载波进行频移操作，同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率PM以及频移后的下路光载波的光功率PA；将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器，并测出待测光电探测器输出信号中所包含的两个频率分量中任意一个的功率；最后根据所测量功率，计算出待测光电探测器在ωe‑Δω或ωe+Δω频率处的频率响应R(ωe‑Δω)、R(ωe+Δω)。本发明还公开了一种光电探测器频率响应测量装置。相比现有技术，本发明可有效拓展测量范围，提高测量精度，降低实现成本。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 探测器 频率响应 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将光载波分为上、下两路；步骤2、将频率为ωe的微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号，对下路光载波进行频移量为Δω的频移操作；同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率PM以及频移后的下路光载波的光功率PA；步骤3、将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器，并测出待测光电探测器输出信号中所包含的ωe‑Δω和ωe+Δω这两个频率分量的功率PUC、PLC中的任意一个；步骤4、利用以下公式计算出待测光电探测器在ωe‑Δω频率处的频率响应R(ωe‑Δω)或在ωe+Δω频率处的频率响应R(ωe+Δω)：![]()
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其中，ZL为待测光电探测器的匹配阻抗。
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