[发明专利]一种石墨烯缺陷的检测方法有效
申请号: | 201710963532.9 | 申请日: | 2017-10-16 |
公开(公告)号: | CN107764849B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 郑绍辉;邱梧柯 | 申请(专利权)人: | 西南大学 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 赵青朵 |
地址: | 400715*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明提供了一种石墨烯缺陷的检测方法,包括:首先将待测的石墨烯通过核磁共振进行检测,得到石墨烯中化学位移大于120.09的各个碳的化学位移;然后将得到的化学位移大于120.09的各个碳的化学位移进行标准差计算,得到标准差;对标准差进行分析,当标准差为4.84~8.44时,待测的石墨烯为双空位缺陷,当标准差为5.93~8.90时,待测的石墨烯为拓扑缺陷,当标准差为50.37~84.05时,待测的石墨烯为单空位缺陷;使用该方法检测石墨烯时间消耗短,运作过程简易,检验效果精确,适合大规模批量检验。有助于研究各类缺陷对石墨烯各项性能的影响、加快石墨烯产品的实际运用。 | ||
搜索关键词: | 一种 石墨 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种石墨烯缺陷的检测方法,其特征在于,包括:1)将待测的石墨烯通过核磁共振进行检测,得到石墨烯中化学位移大于120.09的各个碳的化学位移;2)将步骤1中得到的化学位移大于120.09的各个碳的化学位移进行标准差计算,得到标准差;3)当步骤2)得到的标准差为4.84~8.44时,待测的石墨烯为双空位缺陷,当步骤2)得到的标准差为5.93~8.90时,待测的石墨烯为拓扑缺陷,当步骤2)得到的标准差为50.37~84.05时,待测的石墨烯为单空位缺陷。
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