[发明专利]一种石墨烯缺陷的检测方法有效

专利信息
申请号: 201710963532.9 申请日: 2017-10-16
公开(公告)号: CN107764849B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 郑绍辉;邱梧柯 申请(专利权)人: 西南大学
主分类号: G01N24/08 分类号: G01N24/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 赵青朵
地址: 400715*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供了一种石墨烯缺陷的检测方法,包括:首先将待测的石墨烯通过核磁共振进行检测,得到石墨烯中化学位移大于120.09的各个碳的化学位移;然后将得到的化学位移大于120.09的各个碳的化学位移进行标准差计算,得到标准差;对标准差进行分析,当标准差为4.84~8.44时,待测的石墨烯为双空位缺陷,当标准差为5.93~8.90时,待测的石墨烯为拓扑缺陷,当标准差为50.37~84.05时,待测的石墨烯为单空位缺陷;使用该方法检测石墨烯时间消耗短,运作过程简易,检验效果精确,适合大规模批量检验。有助于研究各类缺陷对石墨烯各项性能的影响、加快石墨烯产品的实际运用。
搜索关键词: 一种 石墨 缺陷 检测 方法
【主权项】:
1.一种石墨烯缺陷的检测方法,其特征在于,包括:1)将待测的石墨烯通过核磁共振进行检测,得到石墨烯中化学位移大于120.09的各个碳的化学位移;2)将步骤1中得到的化学位移大于120.09的各个碳的化学位移进行标准差计算,得到标准差;3)当步骤2)得到的标准差为4.84~8.44时,待测的石墨烯为双空位缺陷,当步骤2)得到的标准差为5.93~8.90时,待测的石墨烯为拓扑缺陷,当步骤2)得到的标准差为50.37~84.05时,待测的石墨烯为单空位缺陷。
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