[发明专利]一种单晶硅太阳能电池减反钝化膜的制备方法有效
申请号: | 201710971386.4 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN107863394B | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 姜礼华;谭新玉;肖婷;向鹏 | 申请(专利权)人: | 三峡大学 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443002*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种单晶硅太阳能电池减反钝化膜的制备方法,该方法包括以下步骤:清洗单晶硅片;以甲烷和氨气为反应气体,采用等离子体增强化学气相沉积技术在单晶硅表面沉积一层氢化氮化碳薄膜;以氢气稀释的硅烷和氨气为反应气体,采用等离子体增强化学气相沉积技术在氢化氮化碳薄膜表面沉积一层氢化氮化硅薄膜;以氢气稀释的硅烷、高纯甲烷和高纯氨气为反应气体,采用等离子体增强化学气相沉积技术在氢化氮化硅薄膜表面制备一层含氢的碳氮化硅薄膜。该方法通过修饰单晶硅表面化学键、调整三层膜中各元素原子浓度比及各层膜厚度,从而提高薄膜钝化效果和减反射特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 单晶硅 太阳能电池 钝化 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种单晶硅太阳能电池减反钝化膜的制备方法,其特征在于,该方法包括下述步骤:(1)清洗单晶硅片;(2)以纯度为99.999%的高纯甲烷和纯度为99.9995%的高纯氨气为反应气体,采用等离子体增强化学气相沉积技术在单晶硅表面沉积一层氢化氮化碳薄膜;(3)以氢气稀释体积比为10%的硅烷和以纯度为99.9995%高纯氨气为反应气体,采用等离子体增强化学气相沉积技术在步骤(2)中所制备的氢化氮化碳薄膜表面沉积一层氢化氮化硅薄膜;(4)以氢气稀释体积比为10%的硅烷、纯度为99.999%的高纯甲烷和纯度为99.9995%的高纯氨气为反应气体,采用等离子体增强化学气相沉积技术在步骤(3)中的氢化氮化硅薄膜表面制备一层含氢的碳氮化硅薄膜,其中氢气、硅烷的体积比为氢气90%,硅烷10%。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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