[发明专利]一种磁芯矩形比的测试方法及系统在审
申请号: | 201710973259.8 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN107843860A | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
发明(设计)人: | 孙海波;陈卫红;王永飞;申旭斌;宗常宝 | 申请(专利权)人: | 佛山市中研非晶科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/00 | 分类号: | G01R33/00 |
代理公司: | 广州科粤专利商标代理有限公司44001 | 代理人: | 谭健洪,莫瑶江 |
地址: | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种磁芯矩形比的测试系统,包括稳压交流电源、二极管、标准电阻与励磁线圈串联成闭合电路形成的励磁端,测量线圈和毫伏表串联成闭合电路形成的测量端,励磁线圈和测量线圈分别绕制被测磁芯样品的两端。优点是,1)测试过程中,激励信号(ΔBrs)与检测信号(ΔU)之间结果线性度高、重复性高,测试结果数据准确。2)基于本发明提供的测试方法,测试时间短,效率高,利于高矩形比非晶纳米晶合金磁芯制造产业化的实现。 | ||
搜索关键词: | 一种 矩形 测试 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种磁芯矩形比的测试方法,其特征在于,具体步骤如下:1S.以被测磁芯样品为中心环形绕制两组线圈,分别为励磁线圈和测量线圈;2S.对于励磁线圈,接入频率范围为20~100kHz的正向半波励磁电源;对于测量线圈,接入毫伏表以定量分析被测磁芯的矩形比;3S.在一定频率的正向半弦波励磁电流下,被测磁芯样品的磁化曲线一直沿第一象限内Br值与Bs值之间往复循环运动;对于线圈横截面面积S、频率f及线圈匝数N等参数为定值的工况,被测磁芯样品的ΔBrs与感应电压值ΔU成如式1所示的线性关系:ΔU=4.44·f·N·ΔBrs·S (1)。
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