[发明专利]用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法

摘要

用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其包括以下步骤：准备与需要检测其故障的电路板相同的、无故障的标准板；将标准板的板面上的各个外露的导电部作为VI曲线的检测点；测量标准板板面上的各个VI曲线的检测点与标准板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的标准板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标；根据存储的各个VI曲线的检测点在该标准板上的位置坐标，在需要检测的待测电路板的板面上设置VI曲线的检测点。其目的在于提供一种在不清楚电路板焊点分布，不清楚电路工作原理和功能的情况下，能够对该无图无资料的电路板卡进行故障检测的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法。

主权项

1.用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于包括以下步骤：A、准备与需要检测其故障的电路板相同的、无故障的标准板；B、将标准板的板面上的各个外露的导电部作为VI曲线的检测点；C、测量标准板板面上的各个VI曲线的检测点与标准板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的标准板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标；D、根据存储的各个VI曲线的检测点在该标准板上的位置坐标，在需要检测的待测电路板的板面上，按照同样或等效的位置坐标作为VI曲线的检测点测量待测电路板板面上的各个VI曲线的检测点与待测电路板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的待测电路板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标；E、将待测电路板的双点VI曲线信息与相同位置坐标的标准板的双点VI曲线信息进行对比，如发现待测电路板板面上的某位置坐标的待测电路板的双点VI曲线信息与同样或等效位置坐标的标准板的双点VI曲线信息相同或相似，则表明该待测电路板上与对应位置坐标关联的二个VI曲线的检测点之间的连接电路上的元器件没有故障；如发现待测电路板板面上的某位置坐标的待测电路板的双点VI曲线信息与同样或等效位置坐标的标准板的双点VI曲线信息不相同或不相似，则表明该待测电路板上与对应位置坐标关联的二个VI曲线的检测点之间的连接电路上的元器件有故障。