[发明专利]三维存储元件及其制造方法在审
申请号: | 201710985976.2 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN109698162A | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 刘福洲 | 申请(专利权)人: | 萨摩亚商费洛储存科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃铱 |
地址: | 萨摩亚*** | 国省代码: | 萨摩亚;WS |
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摘要: | 本发明公开一种三维存储元件及其制造方法。三维存储元件包括多条底部控制栅极线、多条底部源极线、设置于多条底部源极线的堆叠结构体、多条设置于堆叠结构体上的位线以及多个贯穿堆叠结构体的柱状结构。多条底部源极线设置于多条底部控制栅极线且和多条底部控制栅极线彼此交错。堆叠结构体包括多层相互绝缘且位于不同阶层的堆叠层,每一堆叠层包括多条字线。每一柱状结构连接于相对应的位线与相对应的底部源极线之间,且每一字线和相对应的柱状结构形成一记忆胞。每一柱状结构包括外圈铁电层、核心栅导电柱及位于外圈铁电层与核心栅导电柱之间的环绕通道层,且核心栅导电柱电性连接于相对应的底部控制栅极线。据此,记忆胞的读写顺序可任意选择。 | ||
搜索关键词: | 堆叠结构体 控制栅极线 底部源极 柱状结构 三维存储 导电柱 记忆胞 铁电层 位线 电性连接 环绕通道 堆叠层 一字线 叠层 读写 多层 字线 绝缘 制造 交错 阶层 贯穿 | ||
【主权项】:
1.一种三维存储元件,其特征在于,所述三维存储元件包括:多条底部控制栅极线,其沿着一第一水平方向延伸且相互并列设置;多条底部源极线,设置于多条所述底部控制栅极线,其中,多条所述底部源极线沿着一第二水平方向延伸且和多条所述底部控制栅极线彼此交错;一堆叠结构体,其设置于多条所述底部源极线,其中,所述堆叠结构体包括多层相互绝缘且位于不同阶层的堆叠层,每一所述堆叠层包括多条沿着所述第二水平方向延伸的字线,且每一所述字线对应至少一所述底部源极线;多条位线,其设置于所述堆叠结构体上,并沿着所述第一水平方向延伸,其中,多条所述位线与多条所述底部源极线彼此交错;以及多个柱状结构,其贯穿所述堆叠结构体,其中,每一所述柱状结构连接于相对应的所述位线与相对应的所述底部源极线之间,且每一所述字线和相对应的所述柱状结构形成一记忆胞;其中,每一所述柱状结构包括一外圈铁电层、一核心栅导电柱以及一位于所述外圈铁电层与所述核心栅导电柱之间的环绕通道层,且所述核心栅导电柱电性连接于相对应的所述底部控制栅极线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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