[发明专利]一种DFB激光器部分光栅制作方法在审

专利信息
申请号: 201710997892.0 申请日: 2017-10-24
公开(公告)号: CN107732655A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 张恩;许海明 申请(专利权)人: 武汉光安伦光电技术有限公司
主分类号: H01S5/12 分类号: H01S5/12;H01S5/34;G02B5/18
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 代理人: 程殿军,张瑾
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种DFB激光器部分光栅制作方法,包括如下步骤在N型磷化铟衬底上,采用金属有机化学气相沉积方法依次生长N型InP缓冲层、多量子阱结构、P型InP层、InGaAsP光栅层及InP光栅层;在外延片表面均匀涂覆光刻胶,通过光刻版遮住部分光栅,在光刻机下进行曝光,后进行全息曝光及显影,形成光栅区与非光栅区;利用光刻胶作为保护层,采用反应离子刻蚀技术对光栅层中InP光栅层进行刻蚀;采用针对InGaAsP的选择性腐蚀液对InGaAsP光栅层进行腐蚀,室温静置腐蚀1‑2分钟。该方法利用光刻胶作为保护层,采用反应离子刻蚀技术和选择性湿法腐蚀形成深度一致的部分光栅,适合DFB激光器批量制作。
搜索关键词: 一种 dfb 激光器 部分 光栅 制作方法
【主权项】:
一种DFB激光器部分光栅制作方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1:在N型磷化铟衬底(1)上,采用金属有机化学气相沉积方法依次生长N型InP缓冲层(2)、多量子阱结构(3)、P型InP层(4)、InGaAsP光栅层(5)及InP光栅层(6);步骤2:在外延片表面涂覆光刻胶(7),使用光刻版作为掩膜层遮住部分光栅,先在光刻机下进行曝光,然后进行全息曝光及显影,从而形成光栅区(8)与非光栅区(9);步骤3:利用光刻胶(7)作为保护层,采用反应离子刻蚀技术对光栅层中InP层进行刻蚀,刻蚀深度大于所述InP光栅层(6)厚度,但不超过所述InGaAsP光栅层(5)总厚度;步骤4:采用针对InGaAsP的选择性腐蚀液对所述InGaAsP光栅层(5)进行进一步腐蚀,室温静置腐蚀,腐蚀完InGaAsP光栅层后即停止。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉光安伦光电技术有限公司,未经武汉光安伦光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710997892.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top