[发明专利]一种DFB激光器部分光栅制作方法在审
申请号: | 201710997892.0 | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN107732655A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 张恩;许海明 | 申请(专利权)人: | 武汉光安伦光电技术有限公司 |
主分类号: | H01S5/12 | 分类号: | H01S5/12;H01S5/34;G02B5/18 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 | 代理人: | 程殿军,张瑾 |
地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种DFB激光器部分光栅制作方法,包括如下步骤在N型磷化铟衬底上,采用金属有机化学气相沉积方法依次生长N型InP缓冲层、多量子阱结构、P型InP层、InGaAsP光栅层及InP光栅层;在外延片表面均匀涂覆光刻胶,通过光刻版遮住部分光栅,在光刻机下进行曝光,后进行全息曝光及显影,形成光栅区与非光栅区;利用光刻胶作为保护层,采用反应离子刻蚀技术对光栅层中InP光栅层进行刻蚀;采用针对InGaAsP的选择性腐蚀液对InGaAsP光栅层进行腐蚀,室温静置腐蚀1‑2分钟。该方法利用光刻胶作为保护层,采用反应离子刻蚀技术和选择性湿法腐蚀形成深度一致的部分光栅,适合DFB激光器批量制作。 | ||
搜索关键词: | 一种 dfb 激光器 部分 光栅 制作方法 | ||
【主权项】:
一种DFB激光器部分光栅制作方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1:在N型磷化铟衬底(1)上,采用金属有机化学气相沉积方法依次生长N型InP缓冲层(2)、多量子阱结构(3)、P型InP层(4)、InGaAsP光栅层(5)及InP光栅层(6);步骤2:在外延片表面涂覆光刻胶(7),使用光刻版作为掩膜层遮住部分光栅,先在光刻机下进行曝光,然后进行全息曝光及显影,从而形成光栅区(8)与非光栅区(9);步骤3:利用光刻胶(7)作为保护层,采用反应离子刻蚀技术对光栅层中InP层进行刻蚀,刻蚀深度大于所述InP光栅层(6)厚度,但不超过所述InGaAsP光栅层(5)总厚度;步骤4:采用针对InGaAsP的选择性腐蚀液对所述InGaAsP光栅层(5)进行进一步腐蚀,室温静置腐蚀,腐蚀完InGaAsP光栅层后即停止。
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