[发明专利]一种用于宽禁带半导体功率器件的测试装置在审
| 申请号： | 201711004680.4 | 申请日： | 2017-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN107656185A | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 王文博 | 申请（专利权）人： | 北京国联万众半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市顺义*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种宽禁带半导体功率器件测试装置，该测试装置包括宽禁带半导体功率器件输入接口装置、宽禁带半导体功率器件输出接口装置、电源供给装置、数据采集装置、数据存储装置、数据处理装置和数据显示装置，所述数据采集采集装置采集同一工况下宽禁带半导体功率器件的电压、电阻和电感参数，并将上述参数存储到数据存储装置形成待测试宽禁带半导体功率器件参数系列。本发明可以寄生参数的影响，测量结果更准确，同时也保留了电学法自身测试设备常见、测试速度快的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 宽禁带 半导体 功率 器件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种宽禁带半导体功率器件测试装置，该测试装置包括宽禁带半导体功率器件输入接口装置、宽禁带半导体功率器件输出接口装置、电源供给装置、数据采集装置、数据存储装置、数据处理装置和数据显示装置，其特征在于：所述数据采集采集装置采集同一工况下宽禁带半导体功率器件的电压、电阻和电感参数，并将上述参数存储到数据存储装置形成待测试宽禁带半导体功率器件参数系列。
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