[发明专利]一种固体所含杂质浓度的测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 201711014471.8 | 申请日： | 2017-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN107807142A | 公开（公告）日： | 2018-03-16 |
| 发明（设计）人： | 袁珩;李瑞媛;张冀星;卞国栋;范鹏程;杨笑盈;李铭心 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N24/08 | 分类号： | G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人： | 杨学明,顾炜 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种固体所含杂质浓度的测量系统及测量方法，测量系统包括自旋电子磁性传感器、磁场产生装置和控制器，磁场产生装置位于自旋电子磁性传感器的侧面，并与自旋电子磁性传感器相距预设距离；自旋电子磁性传感器探测磁场产生装置产生的磁场的初始磁场强度；待测量固体设置在自旋电子磁性传感器的表面上；自旋电子磁性传感器探测当前磁场强度；控制器根据预设的磁场强度与固体中杂质浓度的对应关系，以及初始磁场强度和当前磁场强度，确定待测量固体中杂质的浓度值。利用本发明的测量系统对待测量固体中杂质的浓度值进行测量时，操作简单，易于实现，且能提高检测效率和检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固体 杂质 浓度 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种固体所含杂质浓度的测量系统，其特征在于，包括：自旋电子磁性传感器、磁场产生装置和控制器，其中，所述磁场产生装置位于所述自旋电子磁性传感器的侧面，并与所述自旋电子磁性传感器相距预设距离，所述自旋电子磁性传感器探测所述磁场产生装置产生的磁场的初始磁场强度；所述待测量固体设置在所述自旋电子磁性传感器的与所述磁场产生装置平行的侧面上，所述自旋电子磁性传感器探测当前磁场强度，所述待测量固体本身不能产生磁场；所述控制器根据预设的磁场强度与固体中杂质浓度的对应关系，以及所述初始磁场强度和所述当前磁场强度，确定所述待测量固体中杂质的浓度值。
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