[发明专利]一种免疫层析检测方法以及检测系统有效

专利信息
申请号: 201711027305.1 申请日: 2016-05-07
公开(公告)号: CN107525926B 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 江翠珍 申请(专利权)人: 贵州福斯特生物科技有限公司
主分类号: G01N33/558 分类号: G01N33/558;G01N21/27
代理公司: 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 代理人: 韩德凯
地址: 550000 贵州省贵阳市贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 一种免疫层析检测系统的检测方法以及检测系统,包括如下步骤:(1)分别通过标准光源和检测光源照射校准区域内的校准色块,根据光电探测器的响应确定检测光源的修正系数;(2)根据检测光源的修正的结果确定是否需要进行光电探测器响应系数的修正;如果需要修正进入步骤(3),如果不需要修正进入步骤(4);(3)对于光电探测器响应系数进行修正;(4)通过检测光源照射检测区域,获取修正后的信号强度;(5)根据修正后的信号强度,确定样品的目标检测物浓度。
搜索关键词: 一种 免疫 层析 检测 方法 以及 系统
【主权项】:
一种免疫层析检测系统的检测方法,包括如下步骤:(1)分别通过标准光源和检测光源照射校准区域内的校准色块,根据光电探测器的响应确定检测光源的修正系数;(2)根据检测光源的修正的结果确定是否需要进行光电探测器响应系数的修正;如果需要修正进入步骤(3),如果不需要修正进入步骤(4);(3)对于光电探测器响应系数进行修正;(4)通过检测光源照射检测区域,获取修正后的信号强度;(5)根据修正后的信号强度,确定样品的目标检测物浓度;所述步骤(2)中,通过最佳响应曲线,计算第三色块以及第四色块的期待信号强度,L期3=k1X1+b1和L期4=k1X2+b1,其中k1和b1为最佳响应曲线的斜率和截距,X1和X2分别为第三色块和第四色块的色阶梯度数值;通过检测光源测定第三色块以及第四色块的信号强度L测3和L测4,分别计算修正后的信号强度L修3=kL测3+b和L修4=kL测4+b,如果L期3-L修3和L期4-L修4中任意一个的绝对值大于特定阈值,进行进一步的光电探测器响应系数的修正。
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