[发明专利]一种偏振泵浦探测装置有效
| 申请号： | 201711029834.5 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN107831120B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 江天;韦可;郑鑫;李汉;武庆雄;郝昊;刘煜;程湘爱;许中杰;沈超;周军虎;陈润泽;杨澜;王义之 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/31 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清;蒋维特 |
| 地址： | 410073 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种偏振泵浦探测装置，包括：激光产生组件、泵浦激光调节组件、探测激光调节组件、第一偏振器、第二偏振器、第二分束器、第三分束器、合束器、第一偏振检测器、第二偏振检测器、滤光器和探测模块。本发明具有集偏振分辨、微区探测和宽谱探测为一体，可测量微米量级大小的纳米材料，分辨材料的各个晶体方向的光学性能，对材料中的激发态载流子同时实现超快时域和光谱域的动力学研究的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏振 探测 装置 | ||
【主权项】：
一种偏振泵浦探测装置，其特征在于，包括：激光产生组件（1）、泵浦激光调节组件、探测激光调节组件、第一偏振器（17）、第二偏振器（12）、第二分束器（10）、第三分束器（13）、合束器（18）、第一偏振检测器（14）、第二偏振检测器（22）、滤光器（23）和探测模块（27）；所述激光产生组件（1）用于产生泵浦激光和探测激光；所述泵浦激光调节组件用于调节所述泵浦激光的参数；所述探测激光调节组件用于调节所述探测激光的参数，生成具有超连续谱的探测激光；所述第二分束器（10）用于从所述探测激光中分出一路探测参考激光；所述第一偏振器（17）用于调整所述泵浦激光的偏振状态；所述第二偏振器（12）用于调整所述探测激光的偏振状态；所述第三分束器（13）用于反射所述探测激光，并透射待测样品的反射光；所述第一偏振检测器（14）用于对所述反射光进行检偏；所述合束器（18）用于将所述泵浦激光和所述探测激光合束，并反射待测样品的反射光；所述第二偏振检测器（22）用于对所述待测样品的透射光进行检偏；所述滤光器（23）用于滤除所述透射光中的泵浦激光；所述探测模块（27）用于对所述探测参考激光、反射光和透射光进行光谱探测。
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