[发明专利]集成电路测试装置有效
| 申请号： | 201711033633.2 | 申请日： | 2017-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN109725245B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 陈柏霖;郭俊仪;陈莹晏 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 李昕巍;章侃铱 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试装置，该装置的一实施例包含一芯片时脉控制器、一脉冲除错电路以及一暂存电路。所述芯片时脉控制器用来依据一输入时脉产生一输出时脉，其中该输出时脉是被用来测试一受测电路，且该受测电路是包含于该集成电路测试装置中。所述脉冲除错电路用来依据该输出时脉的一脉冲数，产生一脉冲纪录，该脉冲纪录指出该输出时脉所关联的一测试状态是否正常。所述暂存电路用来依据一稳定时脉储存及输出该脉冲纪录。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试装置，包含：一芯片时脉控制器，用来依据一输入时脉产生一输出时脉，其中该输出时脉是被用来测试一受测电路，且该受测电路是包含于该集成电路测试装置中；一脉冲除错电路，用来依据该输出时脉的一脉冲数，产生一脉冲纪录，该脉冲纪录指出该输出时脉所关联的一测试状态是否正常；以及一暂存电路，用来依据一稳定时脉储存及输出该脉冲纪录。
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