[发明专利]MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路及制备方法有效

专利信息
申请号: 201711051350.0 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107933969B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 朱健;王守旭;贾世星;杜国平;王冬蕊 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;B64G1/40;B81B7/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 陈鹏
地址: 210016 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路及制备方法,寻址点火电路包括衬底、绝缘介质层和金属引线;衬底上设置第一层金属引线,然后沉积第一层绝缘介质层作为与第二层金属引线的绝缘层,在第一层绝缘介质层上布置第二层金属引线,然后沉积第二层绝缘介质层作为与第三层金属引线的绝缘层,重复上述工艺,实现多层金属引线的立体化布置。本发明在垂直于衬底表面的方向上实现多层金属引线的立体布置,将目前基于二维平面的集成度升级成基于三维立体的体集成度,充分利用衬底面积,在不增加芯片面积和工艺难度的基础上,增加金属引线的线宽以提高大电流承受能力。
搜索关键词: mems 推进器 阵列 芯片 寻址 点火 电路 制备 方法
【主权项】:
一种MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路,其特征在于,包括衬底、金属引线和绝缘介质层;所述金属引线和绝缘介质层均为多层布置,第一层金属引线设置在衬底上,第一层绝缘介质层沉积在第一层金属引线上方,第二层金属引线设置在第一层绝缘介质层上,第二层绝缘介质层沉积在第二层金属引线上方,重复上述布置方式,得到多层金属引线立体化布置的寻址点火电路。
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