[发明专利]一种制作薄膜电路金锡合金焊盘的方法有效

专利信息
申请号: 201711061588.1 申请日: 2017-11-02
公开(公告)号: CN107768257B 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 李彦睿;王春富;秦跃利;王春晖 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L21/60
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 钱成岑
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种制作薄膜电路金锡合金焊盘的方法,涉及一种采用交替式镀膜工艺制作薄膜电路金锡合金焊盘的方法,旨在针对现有技术的问题,提供一种高可生产性的薄膜电路金锡合金焊盘的制作方法,以改善现有方法存在的生产成本高,批量生产难度大,工艺可控性低,产品成品率较差等问题。本发明技术要点包括:采用交替式镀膜工艺制作三明治式结构的预制金锡焊盘、制作焊盘的阻焊结构和预制焊盘合金化。
搜索关键词: 一种 制作 薄膜 电路 合金 方法
【主权项】:
1.一种制作薄膜电路金锡合金焊盘的方法,其特征在于,包括:步骤1,采用交替式镀膜工艺制作三明治式结构的预制金锡焊盘:在依次溅射过渡层(1‑2)、金属种子层(1‑3)的金属化陶瓷基片(1‑1)表面采用电镀方式沉积Au膜层作为焊盘底层(1‑4),焊盘底层(1‑4)是由局部加厚金属种子层(1‑3)上的焊盘区域(A‑A’)形成;然后先用溅射方式依次在金属种子层(1‑3)和焊盘底层(1‑4)的表面整体沉积与金属种子层区域(B‑B’)等面积的Sn膜层和Au膜层,Sn膜层作为焊盘中间层(1‑5),Au膜层作为焊盘顶层(1‑6);再根据焊盘区域(A‑A’)的形状腐蚀去除Sn膜层和Au膜层上除焊盘区域(A‑A’)外的部分;步骤2,制作焊盘的阻焊结构:在预制焊盘合金化之前,腐蚀去除金属种子层(1‑3)在焊盘区域(A‑A’)周围的部分,保留基片(1‑1)表面过渡层(1‑2)作为电路连接,形成阻焊结构;步骤3,预制焊盘合金化:将预制了金锡焊盘的金属化陶瓷基片(1‑1)置入真空环境下加热至设定温度,使预制金锡焊盘进行合金化,形成金锡合金焊盘。
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