[发明专利]电子设备时变库存利用率与满足率的建模方法

摘要

本申请实施例公开了一种电子设备时变库存利用率与满足率的建模方法，更加准确得计算电子设备可用度，减少保障资源的配置费用，在对可用度建模的基础上提出了一种计算时变库存利用率和时变库存满足率的计算方法。本申请实施例提供的方案具有广泛的通用性，不仅适用于计算高故障率、短周期的电子设备集群的瞬时可用度，还适用于计算低故障率、长周期的电子设备集群的瞬时可用度。

主权项

一种电子设备时变库存利用率与满足率的建模方法,其特征在于，包括：步骤1、确定建模条件，电子设备及各部件的相关参数，采用可用电子设备数、备件库存量以及备件短缺数定义备件状态；对于所述电子设备中每一个部件Si，执行如下步骤2‑步骤6：步骤2、建立部件Si备件充足时的状态转移过程；步骤3、建立部件Si备件短缺时的状态转移过程；步骤4、构建部件Si全部的状态转移过程，并确定部件Si的转移率矩阵Qi；步骤5、确定部件Si的瞬时概率矩阵Pi(t)；步骤6、确定部件Si的期望备件短缺数EBOsi(t)；步骤7、确定电子设备集群的备件期望短缺数EBOS(t)及电子设备集群的瞬时可用度Ao(t)；步骤8、确定各部件和电子设备集群的时变库存利用率和时变库存满足率。