[发明专利]一种导光隔离结构的制备方法及像素晶圆在审
申请号: | 201711071287.7 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN107946329A | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 景蔚亮;王本艳;陈邦明 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种导光隔离结构的制备方法及像素晶圆,包括步骤S1,提供一衬底,并采用一第一刻蚀工艺对衬底的上表面进行刻蚀;步骤S2,采用一氧化工艺对刻蚀后的衬底的表面进行氧化,以于衬底的表面形成一氧化层;步骤S3,采用一第二刻蚀工艺于衬底的上表面形成多个沟槽并去除氧化层;步骤S4,于沟槽中填充隔离材料形成多个深槽隔离结构;步骤S5,于深槽隔离结构以及衬底的上表面沉积一保护层;其中,第二刻蚀工艺为光刻工艺;以及一种像素晶圆;制备工艺简单,导光效果好,可靠性高。 | ||
搜索关键词: | 一种 隔离 结构 制备 方法 像素 | ||
【主权项】:
一种导光隔离结构的制备方法,其特征在于,包括:步骤S1,提供一衬底,并采用一第一刻蚀工艺对所述衬底的上表面进行刻蚀;步骤S2,采用一氧化工艺对刻蚀后的所述衬底的表面进行氧化,以于所述衬底的表面形成一氧化层;步骤S3,采用一第二刻蚀工艺于所述衬底的上表面形成多个沟槽并去除所述氧化层;步骤S4,于所述沟槽中填充隔离材料形成多个深槽隔离结构;步骤S5,于所述深槽隔离结构以及所述衬底的上表面沉积一保护层;其中,所述第二刻蚀工艺为光刻工艺。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉新芯集成电路制造有限公司,未经武汉新芯集成电路制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711071287.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种集成式红外探测装置的制备方法
- 下一篇:图像传感器及其形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的