[发明专利]一种检测及校正晶圆与腔体载物台偏移的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201711073025.4 申请日: 2017-11-03
公开(公告)号: CN107863311B 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 胡向华;顾晓芳;倪棋梁;龙吟;陈宏璘 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/66;H01J37/32
代理公司: 31272 上海申新律师事务所 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种检测及校正晶圆与腔体载物台偏移的装置及方法,包括载物台、聚焦环和若干传感器,传感器设置于载物台和聚焦环之间的空隙中,用于监测聚焦环与设置在载物台上的晶圆之间的空间;处理器,用于判断若干传感器收集到的光斑的形状是否一致,以及判断若干传感器收集到的光斑的形状是否改变,从而判断晶圆与载物台是否发生偏移;万向微调装置,设置于载物台上,用于将偏移的晶圆微调至载物台的中心位置。本发明通过在等离子体刻蚀机台腔体中增加传感器,利用传感器发射和接收不一致原理检测晶圆的偏移,并在载物台上增加可控万向调节装置校正偏移,减少因偏移导致的电弧作用的几率。
搜索关键词: 一种 检测 校正 腔体载物台 偏移 装置 方法
【主权项】:
1.一种检测及校正晶圆与腔体载物台偏移的装置,包括载物台和聚焦环,其特征在于,还包括:/n若干传感器,设置于所述载物台和所述聚焦环之间的空隙中,用于监测所述聚焦环与设置在所述载物台上的晶圆之间的空间;/n处理器,若干所述传感器分别与所述处理器相连接,所述处理器用于判断若干所述传感器收集到的光斑的形状是否一致,以及判断若干所述传感器收集到的光斑的形状是否改变,从而判断晶圆与所述载物台是否发生偏移;/n万向微调装置,设置于所述载物台上,用于将偏移的晶圆微调至所述载物台的中心位置。/n
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