[发明专利]一种基于连通域识别的电子元器件自动计数方法在审

专利信息
申请号: 201711093838.X 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN107749059A 公开(公告)日: 2018-03-02
发明(设计)人: 陆定红;来启发;范春帅 申请(专利权)人: 贵州航天计量测试技术研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/12;G06T7/187;G06M11/00
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所52100 代理人: 商小川
地址: 550009 *** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明公开了一种基于连通域识别的电子元器件自动计数方法,通过使用MATLAB处理包含器件数量的图片的方式,将器件转化为图片中的连通域,通过计数连通域的个数,从而确定待计数器件的个数,步骤包括图像采集、二值化处理、孔洞填充处理、形态学开运算边缘处理、形态学腐蚀处理、形态学开运算连通域扩张处理、连通域标记,并计数,计数输出即得需要统计的元器件的个数,该方法导入图像后一键启动输出结果,效率高,计数结果准确,解决了现有技术人工计数效率低、劳动强度大和计数结果不准确的问题。
搜索关键词: 一种 基于 连通 识别 电子元器件 自动 计数 方法
【主权项】:
一种基于连通域识别的电子元器件自动计数方法,其特征在于:它包括以下步骤:第一,将需要计数的电子元器件进行图像采集;第二,对采集到的图像进行二值化处理,将图像上的像素点的灰度值设置为0或255,使图像呈现黑白效果;第三,通过形态学膨胀的方法对二值化处理的图像进行孔洞填充处理;第四,通过形态学开运算对孔洞填充后的图像进行边缘处理;第五,通过形态学腐蚀的方法对边缘处理后图像中粘连的元器件进行分离;第六,经过形态学腐蚀后,元器件形成的连通域边缘形成像素颗粒,采用形态学开运算,使连通域向外扩张,使独立的像素点包含到连通域中,以去除影响计数的干扰颗粒,到此,图像处理完毕;第六,对处理完毕的图像中的连通域标记并计数,将计数结果输出。
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