[发明专利]一种针对单个纳米颗粒的检测方法有效
| 申请号： | 201711099225.7 | 申请日： | 2017-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN108051362B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 江丽雯;路鑫超;孙旭晴;刘虹遥;熊伟;谌雅琴;张朝前 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种针对单个纳米颗粒的检测方法，所述检测方法包括如下步骤：在盖玻片上附着单个纳米颗粒；光源发出的光经过扩束整形后，聚焦到油浸物镜的后焦平面；调节入射光在所述油浸物镜的后焦平面上的位置，使入射光斜入射到所述盖玻片上，在所述盖玻片表面产生沿表面传播、强度在竖直方向上呈指数衰减的倏逝波；所述倏逝波遇到所述单个纳米颗粒发生散射，沿所述盖玻片表面传播产生径向界面散射；通过CCD收集所述界面散射的信号和所述盖玻片上的反射光，并通过所述CCD对所述单个纳米颗粒进行成像。本发明成本低、检测性能稳定、检测速度快、灵敏度高、可用于原位与便携式检测、可扩展到病毒检测、大气中纳米污染物等应用中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 单个 纳米 颗粒 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种针对单个纳米颗粒的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：在盖玻片上附着单个纳米颗粒；光源发出的光经过扩束整形后聚焦到油浸物镜的后焦平面；调节入射光在所述油浸物镜的后焦平面上的位置，使入射光斜入射到所述盖玻片上，在所述盖玻片表面产生沿表面传播、强度在竖直方向上呈指数衰减的倏逝波；所述倏逝波遇到所述单个纳米颗粒发生散射，其中一部分散射到空间中呈立体角分布，另一部分沿所述盖玻片表面传播产生径向界面散射；通过CCD收集所述界面散射的信号和所述盖玻片上的反射光，并通过所述CCD对所述单个纳米颗粒进行成像。
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