[发明专利]图形化的SV虚端子自动测试系统在审
| 申请号： | 201711121889.9 | 申请日： | 2017-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN107976607A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 吴强;林道鸿;万信书;李东升 | 申请（专利权）人： | 海南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/04 | 分类号： | G01R31/04 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 陈欢 |
| 地址： | 570100 海*** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种图形化的SV虚端子自动测试系统，包括自动测试方案生成单元、图形化自动测试控制单元、被测IED装置和数字保护测试装置，所述自动测试方案生成单元用于通过解析SCD文件生成SV虚链接测试方案，所述图形化自动测试控制单元实现IED装置之间虚链接的图形化以及SV虚端子测试结果的图形化、SV虚端子测试报告生成、SV虚端子自动测试过程控制、数字保护测试装置测试功能调用、MMS通讯命令处理等，图形化的SV虚端子测试系统能够根据SV虚端子测试方案文件，自动根据测试方案文件的测试流程执行测试并生成标准报告，有效提高了SV虚端子测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 图形 sv 端子 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种图形化的SV虚端子自动测试系统，其特征在于，包括自动测试方案生成单元、图形化自动测试控制单元、被测IED装置和数字保护测试装置，所述自动测试方案生成单元与所述图形化自动测试控制单元数据相通，所述被测IED装置和数字保护测试装置分别和所述图形化自动测试控制单元数据相通，所述被测IED装置与数字保护测试装置信号相连。
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