[发明专利]一种覆盖纳米柱势垒的GaN晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201711122190.4 申请日: 2017-11-14
公开(公告)号: CN107978628B 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 房育涛;叶念慈 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/778;H01L21/335;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭;陈淑娴
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种覆盖纳米柱势垒的GaN晶体管及其制备方法,所述晶体管的势垒层表面分布有AlxGa1‑xN合金纳米柱,且纳米柱与势垒层中的螺位错一一对应。本发明通过控制AlxGa1‑xN势垒生长过程中的TMGa流量和V/III比例不仅可以避免螺位错终止处V型缺陷形成而且可以在螺位错终止处形成1‑3nm的AlxGa1‑xN合金纳米柱。由于合金纳米柱填充了势垒表面螺位错终止处的V型缺陷,增加了螺位错终止处的有效势垒厚度,从而有效抑制栅漏电流和改善晶体管的耐压特性。
搜索关键词: 一种 覆盖 纳米 柱势垒 gan 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种覆盖纳米柱势垒的GaN晶体管,其特征在于:所述晶体管由下至上包括衬底、缓冲层、沟道层及覆盖纳米柱的势垒层,势垒层上设置有源极、漏极及栅极,且栅极位于源极和漏极之间;所述沟道层由GaN异质外延生长形成,所述势垒层由AlxGa1‑xN异质外延生长形成,且势垒层表面分布有AlxGa1‑xN合金纳米柱,其中0<x<1;所述纳米柱与势垒层中的螺位错一一对应。
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