[发明专利]一种材料法向光谱发射率测量装置有效
| 申请号： | 201711123816.3 | 申请日： | 2017-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN109781275B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 方会双;杨莉萍;钟秋;陶冶;李会东;徐子君;汪文兵;雒彩云 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所;中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;姚佳雯 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种材料法向光谱发射率测量装置，具备：腔体，设置于所述腔体内的两个相对称且开口相向的部分椭圆形状的反射罩、两个红外加热器、和样品，两个所述反射罩具有一个共用焦点，所述样品设于所述共用焦点处，所述两个红外加热器分别设于两个所述反射罩的非共用焦点处；设置于与所述样品正对的所述腔体的顶部或/和底部的观测窗口；设置于所述腔体外与所述观测窗口对应位置处的光学系统；与所述光学系统连用的傅立叶红外光谱仪；与所述傅立叶红外光谱仪连接的计算机。本装置能测量的固体样品温度可达到2000K，熔体样品温度1373K。光谱范围0.25‑25μm（KBr窗口片）。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 光谱 发射 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种材料法向光谱发射率测量装置，其特征在于，具备：腔体，设置于所述腔体内的两个相对称且开口相向的部分椭圆形状的反射罩、两个红外加热器、和样品，两个所述反射罩具有一个共用焦点，所述样品设于所述共用焦点处，所述两个红外加热器分别设于两个所述反射罩的非共用焦点处；设置于与所述样品正对的所述腔体的顶部或/和底部的观测窗口；设置于所述腔体外与所述观测窗口对应位置处的光学系统；与所述光学系统连用的傅立叶红外光谱仪；与所述傅立叶红外光谱仪连接的计算机。
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