[发明专利]二维表层模型构建方法及获得二维测线控制点的方法有效

专利信息
申请号: 201711124865.9 申请日: 2017-11-14
公开(公告)号: CN107894614B 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 耿春;李亚林;敬龙江;罗文;黄卫华;孙伟鹏;田祥平;黎书琴;蔡力 申请(专利权)人: 中国石油集团川庆钻探工程有限公司地球物理勘探公司;中国石油天然气集团公司;中国石油集团川庆钻探工程有限公司
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28
代理公司: 51233 成都中玺知识产权代理有限公司 代理人: 谭昌驰;邢伟
地址: 610213 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种二维表层模型构建方法及获得二维测线控制点的方法。所述模型构建方法包括:求取二维测线网中第一、二测线的控制点;利用控制点建模,得二维表层模型。求取控制点的步骤包括:对第一、二测线分别进行拐点搜索处理,得第一、二测线拐点;利用第一、二测线拐点,得第一、二测线的交点;分别求取第一、二测线上所述交点的成果,进行平均处理,得第一测线与第二测线共用的交点成果,作为控制点。本发明能够根据测线拐点,快速、准确计算二维测线的交点,为表层模型的统一构建打下基础;计算精度高,且计算效率比传统方法具有显著的提高;能够实现交点处的模型闭合,满足二维表层模型精确建模的需求。
搜索关键词: 二维 表层 模型 构建 方法 获得 控制
【主权项】:
1.一种二维表层模型构建方法,其特征在于,所述构建方法包括以下步骤:/n求取二维测线网中第一测线与第二测线的控制点,所述第一测线为二维测线网中的任一测线,所述第二测线为二维测线网中的另一测线;/n利用所述控制点对所述二维测线网进行建模,得到能够提高精确度的二维表层模型,其中,/n所述求取二维测线网中第一测线与第二测线的控制点的步骤包括以下子步骤:/n对第一测线和第二测线分别进行拐点搜索处理,得到第一测线拐点和第二测线拐点,所述第一测线拐点包括第一测线的两个端点,所述第二测线拐点包括第二测线的两个端点;/n利用所述第一测线拐点与所述第二测线拐点,计算得到第一测线与第二测线的交点;/n求取第一测线上所述交点的成果,作为第一成果,求取第二测线上所述交点的成果,作为第二成果,对第一成果和第二成果进行平均处理,得到第一测线与第二测线共用的交点成果,作为第一测线与第二测线的控制点,/n其中,所述计算得到第一测线与第二测线的交点的子步骤包括以下步骤:/n将第一测线拐点中任意相邻的两个拐点构成第一子线段,将第二测线拐点中任意相邻的两个拐点构成第二子线段,将第一子线段与第二子线段的交点作为临时交点;/n利用临时交点的坐标获得离该临时交点最近的4个测点,并利用所述4个测点计算得出精确交点作为第一测线与第二测线的交点;/n判断所述精确交点的位置是否位于所述4个测点的坐标范围之内,若是,则将所述精确交点作为第一测线与第二测线的交点,若否,则利用第一测线的测点数据与第二测线的测点数据直接求取第一测线与第二测线的交点。/n
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