[发明专利]有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法在审

专利信息
申请号: 201711126508.6 申请日: 2017-11-15
公开(公告)号: CN108008204A 公开(公告)日: 2018-05-08
发明(设计)人: 冀京秋;方坚;蒋亦青;余舒浩 申请(专利权)人: 中京复电(上海)电子科技有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R31/00
代理公司: 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙) 31298 代理人: 韩国辉
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法,包括,使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令;使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于待测试标签读写器的天线端口的带外辐射值;根据所述带外辐射功率值计算所述待测试标签读写器的带外辐射功率。本发明获得了以下有益效果:可对有源UHF RFID标签读写器的带外辐射功率进行有效的测试。
搜索关键词: 有源 uhf rfid 标签 读写 器带外 辐射 测试 方法
【主权项】:
1.一种有源UHF RFID标签读写器带外辐射的测试方法,其特征在于,提供一RFID标签以及一射频信号分析装置,并定义复数个测试用例,还包括以下步骤:步骤1,选取一所述测试用例;步骤2,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数,使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式;步骤3,根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数;步骤4,使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令;步骤5,使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号;步骤6,使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于待测试标签读写器的天线端口的带外辐射值;步骤7,根据所述带外辐射功率值计算所述待测试标签读写器的带外辐射功率;步骤8,选取下一测试用例,并重复所述步骤2至所述步骤7,直至所有所述测试用例测试完毕。
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