[发明专利]中红外光的全谱测量方法和相应的装置有效
| 申请号： | 201711155568.0 | 申请日： | 2017-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN109813670B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 张佳;朱江瑞;李刚;李运良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种中红外光的全谱测量方法，包括如下步骤：步骤一：使中红外光与泵浦光同时投射到至少两个上转换晶体上发生和频，将所述中红外光上转换为可见光，其中，所述至少两个上转换晶体的上转换波段的总和覆盖所述中红外光的全谱；步骤二：对转换后的可见光进行探测；以及步骤三：基于所述可见光的探测结果得到所述中红外光的全谱。本发明的中红外光的全谱测量方法分辨率高、信噪比高、读取速度快、灵敏度高并且成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 红外光 测量方法 相应 装置 | ||
【主权项】：
1.一种中红外光的全谱测量方法，包括如下步骤：步骤一：使中红外光与泵浦光同时投射到至少两个上转换晶体上发生和频，将所述中红外光上转换为可见光，其中，所述至少两个上转换晶体的上转换波段的总和覆盖所述中红外光的全谱；步骤二：对转换后的可见光进行探测；以及步骤三：基于所述可见光的探测结果得到所述中红外光的全谱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院物理研究所，未经中国科学院物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711155568.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：快速阿昔洛韦凝胶含量测定的方法
- 下一篇：气/粒反应检测系统
