[发明专利]多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统及方法在审
申请号: | 201711155939.5 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN107918074A | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 周杨;常庆功;米郁;殷志军;王亚海 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/02 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人: | 张勇 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统及方法。其中,该系统,包括机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器;所述机械设备,被配置为移动至预设机械位并向电扫装置发送同步脉冲;所述电扫装置,被配置为接收到同步脉冲信号后向信号源设备发送触发脉冲,并将信号源设备切换到预设测试频点所需的频率;同时还向波控设备发送波位触发信号;所述测试仪器,被配置为根据接收到的数据采集触发脉冲,在预设硬件通道内完成数据采集。本发明采用硬件脉冲时序控制的方法,沿用了仪器原有的触发脉冲方式效率高的优点,支持多仪器设备测试工作,完成仪器设备工作时序的调配。 | ||
搜索关键词: | 仪器设备 测试 系统 硬件 脉冲 时序 逻辑 控制系统 方法 | ||
【主权项】:
一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统,其特征在于,包括机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器;所述机械设备,被配置为移动至预设机械位并向电扫装置发送同步脉冲;所述电扫装置,被配置为接收到同步脉冲信号后向信号源设备发送触发脉冲,并将信号源设备切换到预设测试频点所需的频率;同时还向波控设备发送波位触发信号;所述测试仪器,被配置为根据接收到的数据采集触发脉冲,在预设硬件通道内完成数据采集。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711155939.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学玻璃、使用有光学玻璃的光学元件和光学装置
- 下一篇:高透射玻璃