[发明专利]耦合干扰的干扰源检测方法及装置在审
| 申请号： | 201711160568.X | 申请日： | 2017-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN107919889A | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 孙胜利;陈文;姜兆宁;刘达平;孙鹏 | 申请（专利权）人： | 北京小米移动软件有限公司;青岛亿联客信息技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/525 | 分类号： | H04B1/525;H04B17/10;H04B17/20 |
| 代理公司： | 北京尚伦律师事务所11477 | 代理人： | 代治国 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开是关于耦合干扰的干扰源检测方法及装置。该方法包括本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到噪声参数的测量值，噪声参数包括以下参数中的至少一种噪声频率和噪声幅值；当检测到噪声参数的测量值与噪声参数的预设数值不相同时，确定噪声参数对应的器件为使无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源，其中，可以根据器件对应的噪声参数的测量值与噪声参数的预设数值进行比较，从而根据大小关系便可以得知当前的器件是否为使无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源，有效提升了干扰源确定的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合 干扰 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种耦合干扰的干扰源检测方法，其特征在于，包括：当检测到无线射频芯片的天线受到耦合干扰时，依次测量预设频率的天线对所述无线射频芯片中的至少一个器件产生的噪声参数，得到所述噪声参数的测量值，所述噪声参数包括以下参数中的至少一种：噪声频率和噪声幅值；当检测到所述噪声参数的测量值与所述噪声参数的预设数值不相同时，确定所述噪声参数对应的器件为使所述无线射频芯片的天线受到耦合干扰的干扰源。
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