[发明专利]一种使用杂交MOS管的MRAM芯片有效
申请号: | 201711163944.0 | 申请日: | 2017-11-21 |
公开(公告)号: | CN107845398B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 戴瑾;王志刚 | 申请(专利权)人: | 上海磁宇信息科技有限公司 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16 |
代理公司: | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 | 代理人: | 于晓菁 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种使用杂交MOS管的MRAM芯片,包括外部电路和由若干个存储单元组成的存储单元阵列,存储单元阵列通过字线和位线与外部电路连接,每个存储单元由磁性隧道结和杂交NMOS管组成,杂交NMOS管的栅极宽度和/或氧化层厚度与标准NMOS管不同。本发明的有益效果:(1)杂交NMOS管的电流,特别是不利方向上的电流大幅度提高,可以不用超压或者很小的超压就能完成写操作,这样延长了NMOS管也就是MRAM芯片的使用寿命。(2)电流能力的提高同时对应于MOS管等效电阻的降低,帮助降低写功耗。(3)制成杂交管不需要修改晶圆厂的现有工艺。 | ||
搜索关键词: | 一种 使用 杂交 mos mram 芯片 | ||
【主权项】:
一种MRAM芯片,包括外部电路和由若干个存储单元组成的存储单元阵列,所述存储单元阵列通过字线和位线与所述外部电路连接,其特征在于,每个所述存储单元由磁性隧道结和杂交NMOS管组成,且至少符合下述要求(1)与(2)之中的一个:(1)所述杂交NMOS管的栅极宽度与标准NMOS管的栅极宽度不同;(2)所述杂交NMOS管的氧化层厚度与标准NMOS管的氧化层厚度不同。
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