[发明专利]基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统有效

专利信息
申请号: 201711167449.7 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN107944128B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 刘国斌;金臻;左丽丽;祝周荣;姜丽梅;吴维林;刘伟 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: G06F30/331 分类号: G06F30/331;G06F30/34
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统,包括:仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块,可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程,可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令,接收并存储遥测信息,为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。
搜索关键词: 基于 存储 控制 fpga flash 仿真 验证 系统
【主权项】:
一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统,其特征在于,用于为存储控制FPGA提供闭环的工作环境,以及模拟存储板在地面硬件联测中无法实现的擦写/读过程中出现坏块的工况,具体包括:仿EEPROM模块,包括三片EEPROM,分别用于仿真初始坏块表、出厂坏块表及工作坏块表;仿模拟量遥测接收模块,用于接收并记录所述存储控制FPGA输出的坏块变化、坏块下传地址、坏块总量、读/擦除地址信息;仿串口遥测接收模块,用于接收所述存储控制FPGA输出的遥测信息;仿存储板模块,用于模拟所述存储板接收地址锁存、命令锁存、命令组合信号、地址/状态组合信号后向所述存储控制FPGA反馈存储板中的好/坏块状态,同时与所述仿EEPROM模块配合,以完成所述存储板对坏块的检测和标记;仿时钟、复位、块保护模块,用于向所述存储控制FPGA提供复位信号、工作时钟、工作表保护信号;仿辅控板模块,用于接收所述存储控制FPGA输出的读溢出标志、页写、页读状态,并向所述存储控制FPGA输入可读、可写指令;仿遥控指令发送模块,用于向所述存储控制FPGA输入写存储板指令、读存储板指令、停存储板指令、坏块上注指令。
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