[发明专利]透照构件的X射线检测方法在审
| 申请号： | 201711174690.2 | 申请日： | 2017-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN109827977A | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 戚克鹏;任欣 | 申请（专利权）人： | 宁波至信检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 李丽华 |
| 地址： | 315135 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种透照构件的X射线检测方法，包括以下步骤：确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果，可以使得待检测区域通过一次透照即可查出各部位的缺陷，另外，即使单个待检测构件存在多种厚度，也不必采用多种工艺，有助于简化无损检测的过程，节约时间和材料成本，提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 待检测区域 待检测构件 透照 胶片系统 照射线 胶片 检测 材料成本 分析检测 工作效率 胶片冲洗 无损检测 晾干 暗盒 封装 影像 节约 | ||
【主权项】：
1.一种透照构件的X射线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果。
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