[发明专利]用于确定与消光相关的被测量的方法及相应的传感器装置

摘要

本发明涉及用于确定与消光相关的被测量的方法及相应的传感器装置。公开了一种用于确定介质中的与消光相关的被测量的方法，包括以下步骤：将光辐射到介质中并在第一路径长度(OPL1)之后测量消光(21，22，23)；将光辐射到介质中并在第二路径长度(OPL2)之后测量消光(31，32，33)，其中第一路径长度(OPL1)不同于第二路径长度(OPL2)，以及利用第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)和第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)确定与消光相关的被测量。另外，公开了一种用于执行该方法的传感器装置(10)。

主权项

1.一种用于确定介质中的与消光相关的被测量的方法，包括以下步骤：

将光辐射到所述介质中并在第一路径长度(OPL1)之后测量消光(21，22，23)，

将光辐射到所述介质中并在第二路径长度(OPL2)之后测量消光(31，32，33)，其中所述第一路径长度(OPL1)不同于所述第二路径长度(OPL2)，以及

利用第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)和第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)确定所述与消光相关的被测量。

2.根据权利要求1所述的方法，

其中模型将第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)和第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)和所述与消光相关的被测量相关联。

3.根据权利要求1或2中至少一项所述的方法，

其中所述与消光相关的被测量是吸收、散射、浓度或浊度，并且对于这些与消光相关的被测量中的每一个使用单独的模型。

4.一种用于确定介质中的与消光相关的被测量的传感器装置(10)，所述传感器装置(10)被设计为执行根据权利要求1至3中一项所述的方法，

其中所述传感器装置(10)包括至少一个用于将光辐射到介质中的光源(1)，并且

其中所述传感器装置(10)包括至少一个用于测量消光的检测器(3)。

5.根据权利要求4所述的传感器装置(10)，

包括壳体(11)，所述壳体(11)包括第一和第二路径长度(OPL1，OPL2)。

6.根据权利要求4或5所述的传感器装置(10)，

其中所述传感器装置(10)包括用于在所述第一路径长度(OPL1)的方向上辐射光的第一光源(1)，

其中所述传感器装置包括用于在所述第二路径长度(OPL2)的方向上辐射光的第二光源(1)，

其中所述传感器装置(10)包括用于测量第一路径长度(OPL1)之后的消光(21，22，23)的第一检测器(3)，并且

其中所述传感器装置(10)包括用于测量第二路径长度(OPL2)之后的消光(31，32，33)的第二检测器(3)。

7.根据权利要求4至6中至少一项所述的传感器装置(10)，其中所述光源(1)被设计为LED。

8.根据权利要求6或7所述的传感器装置(10)，

其中附加检测器与所述光源(1)或多个所述光源(1)相关联，所述附加检测器被设计成检测所述光源(1)中的强度变化。

9.根据权利要求4至8中至少一项所述的传感器装置(10)，

其中所述传感器装置(10)被设计为固体含量传感器。