[发明专利]焦平面阵列的处理方法、装置、存储介质和处理器

摘要

本发明公开了一种焦平面阵列的处理方法、装置、存储介质和处理器。该方法包括：获取焦平面阵列的几何参数集；建立与几何参数集对应的目标数学模型；根据目标数学模型确定焦平面阵列的成像质量。通过本发明，达到了提高焦平面阵列评价的准确性的效果。 1

主权项

1.一种焦平面阵列的处理方法，其特征在于，包括：

获取焦平面阵列的几何参数集；

建立与所述几何参数集对应的目标数学模型；

根据所述目标数学模型确定所述焦平面阵列的成像质量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，建立与所述几何参数集对应的目标数学模型包括：

建立与第一几何参数对应的混叠效应评价模型，其中，所述几何参数集包括所述第一几何参数，所述目标数学模型包括所述混叠效应评价模型，所述混叠效应评价模型用于确定所述焦平面阵列的混叠效应；

建立与第二几何参数对应的成像质量评价模型，其中，所述几何参数集包括所述第二几何参数，所述目标数学模型包括所述成像质量评价模型，所述成像质量评价模型用于根据所述混叠效应确定所述成像质量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，建立与所述第一几何参数对应的所述混叠效应评价模型包括：

在目标方向上，对所述焦平面阵列进行离散采样，得到采样阵列，其中，所述第一几何参数包括所述目标方向；

获取所述采样阵列在奈奎斯特频带内的信噪比倒数，其中，所述信噪比倒数用于确定所述焦平面阵列在所述目标方向上的混叠量；

根据所述信噪比倒数建立所述混叠效应评价模型。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述信噪比倒数建立所述混叠效应评价模型包括：

对目标范围内的所有所述信噪比倒数求取平均值，其中，所述目标范围内的所有所述信噪比倒数为分别在多个目标方向上，对所述焦平面阵列进行离散采样得到的多个采样阵列在奈奎斯特频带内的信噪比倒数；

通过所述平均值建立所述混叠效应评价模型。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在对所述焦平面阵列进行离散采样，得到所述采样阵列之后，所述方法还包括：

获取所述采样阵列的期望值；

根据所述期望值获取在所述目标方向上的采样传递函数；

根据所述采样传递函数确定所述采样阵列在所述目标方向上的输出结果；

对所述输出结果进行傅里叶变换，得到第一变换结果；

分别对所述第一变换结果中的第一项和第二项进行逆傅里叶变换，得到第二变换结果，其中，所述第二变换结果用于表征所述焦平面阵列的输出图像的空间域，所述第二变换结果中的第一项用于表征所述输出图像在所述焦平面阵列上的点扩散函数，第二变换结果中的第二项用于表征由所述混叠效应产生的加性噪声；

获取所述采样阵列在所述奈奎斯特频带内的所述信噪比倒数包括：根据所述采样传递函数、所述加性噪声获取所述采样阵列在所述奈奎斯特频带内的所述信噪比倒数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取所述采样阵列的所述期望值包括：

根据所述采样阵列的像素大小、采样间隔、所述目标方向与水平方向之间的夹角、目标函数与所述焦平面阵列的像元中心的偏移量，获取所述采样阵列的所述期望值。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，建立与所述第二几何参数对应的所述成像质量评价模型包括：

获取用于表征所述混叠效应对所述成像质量的影响程度的虚假响应因子；

根据所述虚假响应因子和压缩因子对在目标方向上的采样传递函数进行修正，得到修正后的所述采样传递函数；

确定与修正后的所述采样传递函数对应的目标等效带宽，其中，所述目标等效带宽用于确定所述成像质量。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，

获取用于表征所述混叠效应对所述成像质量的影响程度的所述虚假响应因子包括：获取在所述目标方向上的第一虚假响应因子和对应的频率在奈奎斯特频率以内的第二虚假响应因子；将所述第一虚假响应因子和所述第二虚假响应因子之差，确定为第三虚假响应因子，其中，所述第三虚假响应因子对应的频率在所述奈奎斯特频率以外；

根据所述虚假响应因子和所述压缩因子对在所述目标方向上的采样传递函数进行修正，得到修正后的所述采样传递函数包括：根据所述第三虚假响应因子和所述压缩因子对在所述目标方向上的采样传递函数进行修正，得到修正后的所述采样传递函数。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据所述第三虚假响应因子和所述压缩因子对在所述目标方向上的所述采样传递函数进行修正，得到修正后的所述采样传递函数包括：

根据所述第三虚假响应因子和所述压缩因子确定目标参数；

根据所述目标参数修正在所述目标方向上的所述采样传递函数，得到修正后的所述采样传递函数。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，确定与修正后的所述采样传递函数对应的所述目标等效带宽包括：

确定与修正后的所述采样传递函数对应的包括两项的所述目标等效带宽，其中，所述目标等效带宽的第一项用于表征未引入所述混叠效应时的采样阵列的等效带宽，所述目标等效带宽的第二项用于表征由所述混叠效应引起的所述成像质量在所述目标方向上的变化量。

11.根据权利要求1至10中任意一项所述的方法，其特征在于，所述焦平面阵列包括矩形焦平面阵列或六边形焦平面阵列。

12.一种焦平面阵列的处理装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取焦平面阵列的几何参数集；

建立单元，用于建立与所述几何参数集对应的目标数学模型；

确定单元，用于根据所述目标数学模型确定所述焦平面阵列的成像质量。

13.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至11中任意一项所述的焦平面阵列的处理方法。

14.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至11中任意一项所述的焦平面阵列的处理方法。