[发明专利]一种极弱磁性材料的检测方法有效
| 申请号： | 201711188150.X | 申请日： | 2017-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN107907842B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 宋侃;克莱门斯·凯斯勒;陈康;刘造;李正刚 | 申请（专利权）人： | 武汉中科牛津波谱技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 张英 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种极弱磁性材料的检测方法，其中，上述检测方法主要包括如下步骤：将待测试材料缠绕在样品管表壁检测区域的中心位置，设定倾斜三维梯度回波脉冲序列，获取梯度回波采样数据，并且依据上述的数据处理获得二维柱状旋转图像，并依据图像信息评估所述射频线圈材料磁性。按照本发明的射频线圈材料磁性检测方法，利用的是核磁共振三维梯度成像原理，能够采集表征材料磁化引起的附加磁场变化的图像，空间像素点的分辨率可低至10 |
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| 搜索关键词： | 一种 磁性材料 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于磁场均匀性执行极弱磁性材料的检测方法，所述极弱磁性材料磁化率为10‑6～10‑7数量级，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：将待测试材料设置于分辨率为10‑9～10‑10数量级的均匀磁场中执行成像，从所述成像信息中提取所述待测试材料的磁性对所述均匀磁场的影响信息实现对所述待测试材料的检测。
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