[发明专利]检查系统在审
申请号: | 201711188850.9 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107765320A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 何远;李荐民;郭以伟;李玉兰;宋全伟;李元景;孟辉;陈志强;史俊平;张丽 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 艾春慧 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种检查系统。检查系统包括用于形成检查通道的门形框架,门形框架包括用于安装射线源的舱体和分别设置于舱体的两侧且支撑舱体的竖支撑臂。竖支撑臂可伸缩地设置。该检查系统在需要转场运输时控制竖支撑臂缩回从而减小检查系统整体的高度以符合运输高度要求;在到达工作场地后控制竖支撑臂伸出从而使检查通道的高度满足检查作业的要求,因此本发明的检查系统可以更好地满足转场运输要求。 | ||
搜索关键词: | 检查 系统 | ||
【主权项】:
一种检查系统,其特征在于,包括用于形成检查通道的门形框架,所述门形框架包括用于安装射线源的舱体(1)和分别设置于所述舱体(1)的两侧且支撑所述舱体(1)的竖支撑臂(2),所述竖支撑臂(2)可伸缩地设置。
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