[发明专利]一种有机薄膜晶体管电学特性的确定方法及介质有效
| 申请号： | 201711188996.3 | 申请日： | 2017-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN108226735B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 卢江楠;李洪革 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张贵东 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种确定晶体管电学特性的方法，包括：确定所述晶体管沟道内载流子在晶体管工作温度条件下的迁移特性，基于载流子的所述迁移特、所述晶体管的半导体材料性质以及所述晶体管的结构特征确定所述晶体管的电学特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有机 薄膜晶体管 电学 特性 确定 方法 介质 | ||
【主权项】：
1.一种确定晶体管电学特性的方法，包括：确定所述晶体管沟道内载流子在晶体管工作温度条件下的迁移特性；以及基于载流子的所述迁移特性、所述晶体管的半导体材料性质以及所述晶体管的结构特征确定所述晶体管的电学特性。
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