[发明专利]AMOLED显示器的测试电路和测试方法、AMOLED显示器有效
| 申请号： | 201711192556.5 | 申请日： | 2017-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN107731143B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 陈彩琴 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;武岑飞 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于AMOLED显示器的测试电路，其包括：第一薄膜晶体管，其栅极用于接收第一发光控制信号，且其漏极用于接收低电位的关断信号，且其源极连接至第一节点；第二薄膜晶体管，其栅极用于接收第一扫描信号，且其漏极用于接收低电位的关断信号，且其源极连接至第三薄膜晶体管的漏极；第三薄膜晶体管，其栅极用于接收第二使能信号，且其源极连接至第一节点；第四薄膜晶体管，其栅极用于接收第二扫描信号，且其源极用于接收第一发光控制信号，且其漏极连接至第一节点；第五薄膜晶体管，其栅极用于接收第一使能信号，且其源极用于接收第一发光控制信号，且其漏极连接至第一节点；第一使能信号和第二使能信号的电位互反。本发明避免了漏检现象。 | ||
| 搜索关键词： | amoled 显示器 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种用于AMOLED显示器的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管和第五薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管的栅极用于接收第一发光控制信号，且其漏极用于接收低电位的关断信号，且其源极连接至第一节点；所述第二薄膜晶体管的栅极用于接收第一扫描信号，且其漏极用于接收低电位的关断信号，且其源极连接至所述第三薄膜晶体管的漏极；所述第三薄膜晶体管的栅极用于接收第二使能信号，且其源极连接至第一节点；所述第四薄膜晶体管的栅极用于接收第二扫描信号，且其源极用于接收第一发光控制信号，且其漏极连接至第一节点；所述第五薄膜晶体管的栅极用于接收第一使能信号，且其源极用于接收第一发光控制信号，且其漏极连接至第一节点；所述第一使能信号和所述第二使能信号的电位互反。
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