[发明专利]一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法及装置有效
| 申请号： | 201711193949.8 | 申请日： | 2017-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN107976255B | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 戚栋栋 | 申请（专利权）人： | 烟台艾睿光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 264006 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法及装置。其中，方法包括预先利用两点校正法计算红外探测器在第一预设温度时的第一非均匀性校正系数，及在第二预设温度时的第二非均匀性校正系数；获取红外探测器焦平面阵列温度‑温度修正值表及红外探测器焦平面阵列的当前温度，根据当前温度获取相对应的温度修正值；根据第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、温度修正值计算使用非均匀性校正系数，以作为红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数。本申请提供的技术方案提高了红外探测器的非均匀性校正系数的标定效率，提高了红外设备生成的红外图像的质量，具有好的社会经济效益。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外探测器 均匀 校正 系数 修正 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法，其特征在于，包括：预先利用两点校正法计算红外探测器在第一预设温度时的第一非均匀性校正系数，及在第二预设温度时的第二非均匀性校正系数，并获取红外探测器焦平面阵列温度‑温度修正值表；获取红外探测器焦平面阵列的当前温度，根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算使用非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数；其中，所述第一预设温度与所述第二预设温度均为红外探测器焦平面阵列温度。
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