[发明专利]基于多基地雷达的杂波子空间下双门限恒虚警检测方法有效

专利信息
申请号: 201711200689.2 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN108037493B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 苏洪涛;李志华;刘宏伟;赵永波 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于多基地雷达的杂波子空间双门限恒虚警检测方法,主要解决现有技术计算复杂、检测性能低下等问题。其实现步骤为:1、对回波数据进行采集;2、对采集的回波数据进行广义似然比检测,得到局部检验统计量;3、计算第一门限,并根据第一门限对局部检验统计量进行判别,若局部检验统计量大于第一门限,则将局部检验统计量传输到融合中心,否则剔除;4、根据传输到融合中心的局部检验统计量计算全局检验统计量;5、计算第二门限,并根据第二门限对全局检验统计量进行判别,若全局检验统计量大于第二门限,则判决目标存在,否则判决目标不存在。本发明能有效的对雷达目标进行检测,且系统简单,适用性广泛,可用于提高多基地雷达目标检测性能。
搜索关键词: 基于 基地 雷达 杂波子 空间 门限 恒虚警 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于多基地雷达的杂波子空间下双门限恒虚警检测方法,包括如下步骤:(1)对雷达回波信号进行采集,得到N×L×(K+1)维原始数据矩阵:X=[X1,X2,...,Xn,...,XN],Xn表示第n个局部雷达站中的原始数据,n=1,2,...,N,N为局部雷达站个数,L为一个非相干积累周期中所包含的脉冲个数,K代表检测单元附近参考单元个数;(2)对数据矩阵X中的元素进行广义似然比检测,得到N×L×(K+1)维经广义似然比检测后的局部检验统计量Z=[Z1,Z2,...,Zn,...,ZN],Zn表示Z中的第n个数据元素;(3)计算第一门限τ1:根据脉冲个数L、参考单元个数K、局部雷达站干扰个数D及局部虚警概率pfa计算第一门限τ1:τ1=-1/(K-L+D+1)×log(pfa),其中,log(·)表示对数运算;(4)将局部检验统计量Z中的每个元素Zn与第一门限τ1相比较:若Zn≥τ1,则将数据Zn传输到融合中心,记传输到融合中心的数据为B=[B1,…,Bm,…,BM],Bm为B中第m个元素,m=1,2,...,M,M为传输到融合中心的数据个数;若Zn<τ1,则数据Zn不传输;(5)根据传输到融合中心的数据个数m、脉冲个数L,参考单元个数K,干扰子空间个数D,局部虚警概率pfa以及全局虚警概率Pfa计算第二门限η2:η2={η2:F(η2|N,1/(K-L+D+1))=Pfa},其中, F ( η 2 | p f a , τ 1 , N , 1 / ( K - L + D + 1 ) ) = Σ m = 1 N N m ( 1 - p f a ) N - m p f a m × ( 1 - G ( η 2 - mτ 1 | m , ( K - L + D + 1 ) ) ) , ]]> G ( η 2 - mτ 1 | m , 1 / ( K - L + D + 1 ) ) = ( K - L + D + 1 ) m Γ ( m ) ∫ η 2 - mτ 1 ∞ t m - 1 e - ( K - L + D + 1 ) t d t , Γ ( m ) = ( m - 1 ) ! , ]]>t表示积分因子,!表示阶乘运算;(6)对传输到融合中心数据B中的元素进行求和,得到全局检验统计量E,将全局检验统计量E与第二门限η2比较:若E≥η2,则判决目标存在,若E<η2,则判决目标不存在。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711200689.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top