[发明专利]过电流检测电路、半导体装置以及电源装置在审
| 申请号： | 201711214645.5 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108206630A | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 桑野俊一 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | H02M3/158 | 分类号： | H02M3/158;H02M1/32;G01R19/165;H01L29/78 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 邓毅;李庆泽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供过电流检测电路、半导体装置以及电源装置。该过电流检测电路具备：比较电压生成部，其生成随着电源电压而变化的比较电压；和比较部，其将开关晶体管的漏极/源极间电压与比较电压进行比较而生成比较结果信号。 | ||
| 搜索关键词： | 过电流检测电路 比较电压 半导体装置 电源装置 比较结果信号 开关晶体管 源极间电压 电源电压 比较部 漏极 | ||
【主权项】：
1.一种过电流检测电路，其具备：比较电压生成部，其生成随着电源电压而变化的比较电压；和比较部，其将随着所述电源电压而变化的开关晶体管的漏极/源极间电压与所述比较电压进行比较而生成比较结果信号。
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