[发明专利]一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法有效
申请号: | 201711226436.2 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN107991561B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 王莉;李国强;王巍丹;牛磊;郑文强;叶林;崔巍;段友峰;哈斯图亚 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法;所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体;位于所述壳体底端的输出转接基座;位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板;及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上;将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上;将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试;进行老化性能测试;卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 石英 晶体 谐振器 老化 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置,其特征在于,包括:底端开口的壳体;位于所述壳体底端的输出转接基座;位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板;以及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板;其中,所述壳体用于对老化性能测试装置内部组件形成遮蔽,防止外部环境影响;所述输出转接基座用于将老化性能测试装置与老化系统进行适配安装并形成电气连接与数据信号联通;所述信号处理及调试功能通用底板用于振荡网络频率信号放大输出,同时对石英晶体谐振器的工作温度和输出频率进行调节;所述振荡及加热控温功能适配插板用于将石英晶体谐振器接入振荡网络发生谐振产生振荡频率,并对石英晶体谐振器进行加热控温。
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