[发明专利]基于间接测量的多涂层厚度测量方法在审

专利信息
申请号: 201711233327.3 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN107796318A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 洪鹏;陶凌峰;李茂盛;杨伟锋;沈爱华;高中辉;周轩 申请(专利权)人: 江苏金陵智造研究院有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 陈鹏
地址: 210006 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于间接测量的多涂层厚度测量方法,采用一套组合式的测量机构,测量机构包括测量头、能够带动测量头运动的多轴运动机构以及后台数据处理系统;多轴运动机构各关节设置有反馈装置,用于实时获取各关节的位置和末端测量头发射点的位置;该方法首先在产品喷涂前,利用不被喷涂到的产品或工装特征建立基准坐标系并对产品三维模型进行重构,产品喷涂后,利用相同特征再次建立基准坐标系并对喷后三维模型进行重构,将两次基准坐标系进行重合,喷涂前后垂直于产品表面的距离差值即为涂层的厚度。本发明能够适应多种相似特性材料的大厚度、高精度、非接触式测量。
搜索关键词: 基于 间接 测量 涂层 厚度 测量方法
【主权项】:
一种基于间接测量的多涂层厚度测量方法,其特征在于,该测量方法采用一套组合式的测量机构,测量机构包括测量头、能够带动测量头运动的多轴运动机构以及后台数据处理系统;多轴运动机构各关节设置有反馈装置,用于实时获取各关节的位置和末端测量头发射点的位置;该方法首先在产品喷涂前,利用不被喷涂到的产品或工装特征建立基准坐标系并对产品三维模型进行重构,产品喷涂后,利用相同特征再次建立基准坐标系并对喷后三维模型进行重构,将两次基准坐标系进行重合,喷涂前后垂直于产品表面的距离差值即为涂层的厚度。
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