[发明专利]玻璃光谱内透过率测量方法在审
| 申请号： | 201711238029.3 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108051409A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 吴志强;周佺佺;刘珍;张晓刚;吴德林 | 申请（专利权）人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 敬川 |
| 地址： | 610100 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于玻璃测试技术领域，具体公开了一种玻璃光谱内透过率测量方法，旨在解决如何降低测量误差使测量值更接近真实值的问题。该玻璃光谱内透过率测量方法，包括取样步骤、分光步骤和测量步骤，测量步骤：基线测量时通过在测试光路和参考光路中分别放置一块厚度相等的薄样品进行零点和100％点校正，光谱透过率测量时通过厚样品替换测试光路中的薄样品测量。通过该方法进行测量，能够使得参考光路作基线时及测量时投射在探测器位置上的斑点大小及位置不发生改变，而测试光路中的薄样品被厚样品替换后测试光路投射在探测器上的斑点大小及位置的变化极小，基本消除了样品架放置位置不理想引起的误差，测得的玻璃光谱内透过率更接近真实值。 | ||
| 搜索关键词： | 玻璃 光谱 透过 测量方法 | ||
【主权项】：
1.玻璃光谱内透过率测量方法，包括取样步骤、分光步骤和测量步骤；其特征在于：取样步骤：在同一块玻璃上切取薄样品(110)和厚样品(120)，并在同一状态下对薄样品(110)和厚样品(120)进行处理；其中，薄样品(110)的数量为两块或两块以上，且各块薄样品(110)的厚度相等；厚样品(120)至少为一块，且厚样品(120)的厚度大于薄样品(110)的厚度；分光步骤：利用分光仪器将同一光源分光为测试光路(300)和参考光路(200)，并在测试光路(300)和参考光路(200)的末端设置探测器；测量步骤：首先进行基线测量，利用样品架(400)在测试光路(300)和参考光路(200)中分别放置一块薄样品(110)后，对测试光路(300)和参考光路(200)进行零点和100％点校正；然后，通过厚样品(120)将处于测试光路(300)中的薄样品(110)替换掉，同时在测试光路(300)和参考光路(200)上进行光谱透过率测量；最后，消除玻璃表面反射并根据厚样品(120)与薄样品(110)的厚度差计算得到玻璃的光谱内透过率。
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