[发明专利]一种坏块识别方法及装置有效
| 申请号： | 201711241290.9 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN107908500B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 姬瑞勤;辛海宁 | 申请（专利权）人： | 新华三技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G06F12/02 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 310052 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种坏块识别方法及装置，该方法包括：根据预设坏块表bbt描述符规则从所述Nand Flash的数据区中查找bbt描述符；若查找到bbt描述符，则对所述bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验；基于校验后的bbt描述符执行查找；当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时，根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块。应用本发明实施例可以提高坏块识别的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 识别 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种坏块识别方法，应用于以与非Nand闪存Flash为存储介质的通信设备，其特征在于，该方法包括：根据预设坏块表bbt描述符规则从所述Nand Flash的数据区中查找bbt描述符；若查找到bbt描述符，则对所述bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验；基于校验后的bbt描述符执行查找；当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时，根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块。
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