[发明专利]一种扩束准直光检测方法在审
| 申请号： | 201711242519.0 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108051184A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 王大森;聂凤明;张广平;裴宁 | 申请（专利权）人： | 中国兵器科学研究院宁波分院 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 315103 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种扩束准直光检测方法，涉及图像处理技术领域。包括：通过剪切干涉方法获取干涉图像，对所述干涉条纹进行空间滤波得到滤波干涉条纹；将所述滤波干涉条纹通过傅里叶变化获取所述滤波干涉条纹的频谱图；通过设置的滤波窗口对所述频谱图进行频域滤波处理，得到滤波频谱图；对所述滤波频谱图进行反傅里叶变化，得到所述干涉图像的包裹相位，采用最小二乘法对所述包裹相位进行解包得到所述干涉图像的相位解包图；所述相位解包图通过整面消倾斜得到通过所述剪切干涉得到的所述干涉图像的真实相位；对所述真实相位采用Zernike波前重构处理，得到所述涉图像的波面信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扩束准直光 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种扩束准直光检测方法，其特征在于，包括：通过剪切干涉方法获取干涉图像，对所述干涉条纹进行空间滤波得到滤波干涉条纹；将所述滤波干涉条纹通过傅里叶变化获取所述滤波干涉条纹的频谱图；通过设置的滤波窗口对所述频谱图进行频域滤波处理，得到滤波频谱图；对所述滤波频谱图进行反傅里叶变化，得到所述干涉图像的包裹相位，采用最小二乘法对所述包裹相位进行解包得到所述干涉图像的相位解包图；所述相位解包图通过整面消倾斜得到通过所述剪切干涉得到的所述干涉图像的真实相位；对所述真实相位采用Zernike波前重构处理，得到所述涉图像的波面信息。
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